I. Présentation du produit
Cette station de sonde cryogénique (en option : haute température, basse température, vide, champ magnétique) est une plate-forme expérimentale multifonctionnelle de haute précision conçue pour tester les propriétés électriques et magnétiques des matériaux semi-conducteurs, des dispositifs micro-nano, des matériaux magnétiques, des dispositifs spintroniques et des domaines techniques connexes.
II. Caractéristiques principales
1. Plateforme expérimentale de haute précision : la station de sonde dispose d'un bras de sonde avec un déplacement de haute précision, qui peut fonctionner et tester avec précision de minuscules échantillons.
2. Configuration multifonctionnelle : selon les besoins de l'utilisateur, la haute température, la basse température, le vide, le champ magnétique et d'autres configurations peuvent être sélectionnés pour répondre aux besoins de divers environnements expérimentaux complexes.
3. Champ magnétique à haute stabilité : Grâce à un système de champ magnétique soigneusement conçu combiné à une alimentation à courant constant bipolaire de haute précision, la haute stabilité du champ magnétique est assurée.
4. Conception de l'étage de déplacement : l'étage de déplacement est équipé d'un joint de fluide magnétique pour réaliser un mouvement bidimensionnel et une rotation de 360-degrés de l'étage d'échantillon dans la direction horizontale, et le fonctionnement est flexible et pratique.
5. Observation microscopique : Équipé d'un microscope électronique de haute précision, il est pratique pour les utilisateurs d'observer et d'utiliser de minuscules échantillons en détail.
III. Domaines d'application
Cette station de sonde est largement utilisée dans les domaines de l'industrie des semi-conducteurs, des systèmes micro-électromécaniques, de la supraconductivité, de l'électronique, de la ferroélectronique, de la physique, de la science des matériaux et de la biomédecine, y compris, mais sans s'y limiter :
Test de performance magnétique
Test de performance micro-ondes
Test de performance CC, RF
Test de performance MEMS
Test de performance supraconductrice
Test de performance photoélectrique des nanocircuits, des points quantiques et des fils
Test de puce dans un environnement sous vide à haute et basse température
Essai de matériaux
Essai de Hall
Test de performance de transport électromagnétique, etc.
Ⅳ. Accessoires optionnels
Afin de répondre aux besoins des différents utilisateurs, nous proposons une série d'accessoires optionnels, notamment :
Diverses sondes DC, sondes haute fréquence, sondes actives
Dispositif d'imagerie vidéo filaire CCD ou C-MOS
Système électromagnétique à ventouse/système magnétique supraconducteur
Mise à niveau du système de pression positive de 1 Mpa
Option de mise à niveau à très haute température
Option de mise à niveau du vide ultra-élevé
Divers montages de sondes
Table anti-vibratoire à caisson blindé
Adaptateur
Pompe à vide silencieuse, etc.
Paramètres
Station de sonde de champ magnétique sous vide à haute et basse température |
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Modèle |
DXTPS1 |
DXTPS2 |
DXTPS3 |
Degré de vide |
Vide maximal 10-8Pa |
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Matériau de la cavité |
Acier inoxydable ou alliage d'aluminium non magnétique |
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Portée du champ magnétique |
2000 G à 50 mm |
5000 G à 50 mm |
1T à 50 mm |
Direction du champ magnétique |
horizontal (peut être conçu selon les exigences de l'utilisateur dans le sens vertical) |
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Alimentation électrique |
Alimentation bipolaire ± 50A |
Alimentation bipolaire ± 70A |
Alimentation bipolaire ± 90A |
Stabilité de l'alimentation électrique |
50 ppm en option 10 ppm |
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Mode réfrigération |
Réfrigération à hélium liquide/azote liquide/réfrigérateur à cycle fermé |
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Plage de température |
5 K-325K en option 500K |
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Plage de température |
65 K-325K en option 600 K |
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Résolution du contrôle de la température |
0.001K contrôleur de température associé |
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Stabilité de la température |
mieux que 0.1K selon le contrôleur de température |
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Capteur de température |
diode au silicium/PT 100 |
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Capteurs |
Une table d'échantillon, un écran anti-rayonnement et un bras de sonde. |
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Taille de la table d'échantillons (max) |
Φ50mm, planéité inférieure ou égale à u7m |
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Exemple de méthode de fixation de la table |
Presses à graisse/ressorts sous vide en silicone |
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Exemple de matériel de table |
cuivre sans oxygène plaqué or |
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Voyage au microscope |
Plan X, Y 2*2 pouces, précision 1 um, déplacement de l'axe Z supérieur ou égal à 50,8 mm |
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Grossissement |
16 ~ 100X/20 ~ 4000X |
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Taille de la fenêtre d'observation de la chambre à vide |
1 pouce |
1,5 pouce |
2 pouces |
Matériaux de fenêtre |
silice fondue (K9 en option, fluorure de calcium, etc.) |
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Nombre de bras de sonde |
2, 4, 6, 8 en option |
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Course du bras de sonde |
25 mm-25mm-12mm remplaçable |
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Précision mécanique |
10um/ 2um/ 1um/ 0,7um |
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Formulaire d'interface |
Joint à vide ordinaire/trois joints coaxiaux/BNC/SMA, etc. |
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Diamètre de la sonde |
0.51mm |
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Diamètre de la pointe de l'aiguille |
10 um/ 5 um/ 1 um en option |
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Matériau de la sonde |
Tungstène/GGB |
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Tension d'alimentation |
CA 220 V 50 Hz/60 Hz |
CA 380 V 50 Hz/60 Hz |
Confirmation des paramètres avant l'achat :
Le nombre maximal de pouces de plaquettes ou de dispositifs devant être testés ; s'il est nécessaire de tester des fragments ou des puces individuelles ; la plus petite taille de puce individuelle ;
Quelle est la précision mécanique requise pour la station de sondage ?
La taille de l'électrode de l'échantillon de mesure ponctuelle ; tampon 100 μm*100 μm ou 60 μm*60 μm, ou le mini tampon fabriqué par FIB, ou le circuit métallique à l'intérieur du circuit intégré ;
Pour la mesure ponctuelle, un maximum de plusieurs sondes sont nécessaires en même temps ;
Si le test de la carte sonde sera utilisé ;
Quelle est la résolution minimale requise du microscope optique ;
En termes de microscopie, est-il nécessaire d'ajouter un polariseur pour la détection des points chauds des cristaux liquides LC ;
Si le besoin de courant atteint 10fa ou moins pendant le test ponctuel de la sonde ! L'exigence de faible capacité doit-elle être de 0,1 pf ; S'il existe une exigence de radiofréquence ;
Quelles sont les interfaces des instruments de test connectés ;
Si un chauffage ou un refroidissement est nécessaire lors du test de l'environnement ! Si une cavité fermée est requise ;
Qu'en est-il des exigences de fuite du mandrin ; avez-vous besoin d'ajouter un mandrin à faible impédance ;
Si une table antichoc est nécessaire ;
Si vous ajoutez une table antichoc, qu'il y ait de l'air comprimé.
Plus de photos de la station de sonde cryogénique
Livrer, expédier et servir
Nous reconnaissons profondément le rôle clé de la logistique dans l'amélioration du sentiment d'expérience d'achat, c'est pourquoi nous nous engageons à concevoir des réseaux de logistique et de transport efficaces, sûrs et fiables, adaptés à vos besoins. Nous avons établi des partenariats solides et à long terme avec de nombreux prestataires logistiques réputés pour garantir que vos produits atteignent leur destination en temps opportun et en toute sécurité. De plus, nous fournissons un service de suivi complet pour vous permettre de comprendre l'état de transport du produit. Nous accordons la priorité aux clients, nous nous efforçons constamment d'améliorer la qualité du service et nous efforçons de vous offrir une excellente expérience d'achat.
FAQ
Question 1 : Quelles sont les caractéristiques des sondes à vide haute et basse température pour les capacités de micro-observation et d'imagerie ?
Répondre:
1. Haute résolution : la table de sondage est équipée d'un système de microscope haute résolution qui permet d'observer l'apparence et la structure de la surface de l'échantillon en temps réel. Cela est essentiel pour les caractéristiques d'apparence, l'analyse des défauts et la représentation des matériaux des appareils de recherche.
2. Capacités d'imagerie : les systèmes de microscopes disposent généralement de divers modes d'imagerie, tels que l'imagerie optique, l'imagerie électronique, etc., pour répondre aux différents échantillons et besoins expérimentaux. Ces modèles d'imagerie peuvent fournir des informations d'image riches et aider les chercheurs à comprendre la nature de l'échantillon.
Question 2 : Quelles sont les fonctions du logiciel de collecte et d’analyse de données dans les sondes à vide à haute et basse température ?
Répondre:
1. Collecte en temps réel : le bureau de sonde doit être équipé d'un logiciel avancé de collecte et d'analyse de données pour réaliser la collecte en temps réel de données d'analyse électrique, micro et matérielle.
2. Traitement et analyse : les logiciels de collecte de données disposent généralement de plusieurs fonctions de traitement et d'analyse de données, telles que le traitement d'images, l'ajustement des données et la reconstruction tridimensionnelle.
Question 3 : Quelles sont les caractéristiques des sondes à vide à haute et basse température en termes de capacités de micro-observation et d’imagerie ?
Répondre:
Haute résolution : le pupitre de sondage est équipé d'un système de microscope haute résolution qui permet d'observer l'apparence et la structure de la surface de l'échantillon en temps réel. Cela est essentiel pour les caractéristiques d'apparence, l'analyse des défauts et la représentation des matériaux des appareils de recherche.
Capacités d'imagerie : les systèmes de microscope disposent généralement d'une variété de modes d'imagerie, tels que l'imagerie optique, l'imagerie électronique, etc., pour répondre à différents échantillons et besoins expérimentaux.