Silicon Steel Material Dispositif de mesure automatique

Silicon Steel Material Dispositif de mesure automatique

1. Haute précision et large applicabilité

2. Compliance élevée de l'automatisation et des normes

3. Test d'échantillons étendu et méthodes de test flexibles
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Description

DX -2012 M Analyseur de silicium automatisé

Un outil de pointe pour évaluer les propriétés magnétiques dans l'acier en silicium et les alliages associés, conçus pour améliorer l'assurance qualité et l'efficacité de la recherche.


Avantages clés

  • Automatisation intelligente: Remplace les instruments manuels par des systèmes contrôlés par ordinateur et une technologie d'échantillonnage avancée pour les tests transparents.
  • Conformité mondiale: Répond aux normes majeures (GB / T, IEC) pour assurer la fiabilité transfrontalière des données.
  • Tests polyvalents: Prend en charge les échantillons ouverts / fermés (bandes, anneaux, e / cores U) et divers matériaux (amorphes, nanocristallins).
  • Technologie de précision: La rétroaction numérique verrouille les pics magnétiques ({{0}}.
  • Flux de travail efficace: Test de lots pour 255 points (30 secondes / point) avec des modes de fréquence, BM ou HM personnalisables.

Capacités de base

  1. Gamme de matériaux: Acier en silicium chaud / à froid, permalloy, alliages amorphes / nanocristallins.
  2. Types d'échantillons: Draps plats, pièces estampillées, transformateurs anneaux / e-noyau.
  3. Mesures critiques: Mesure BM, PS, HC, BR, μA et la perte d'hystérésis avec une répétabilité de pointe (± 0. 5–2%).
  4. Conception intégrée: Combine l'alimentation, l'amplificateur et les interfaces intuitives (RS232, ports à double tension) dans une seule unité.

Spécifications techniques

  • Fréquence: 45 Hz - 1 kHz (± 0. 05% stabilité)
  • Sortie: 500 VA, 4 niveaux de tension auto-allant (10–300 V)
  • Échantillonnage: 16- Résolution de bits, inférieure ou égale à 2,5 μs de conversion
  • Incertitude: BM (1%), PS (1%), μA (2%) à 50 Hz (cadre Epstein de 25 cm)

Composants système

  • Kit de base: TPS -500 m alimentation, carte de données PC6112, logiciel SMTest, PC Dell, cadre Epstein, échantillons d'étalonnage.
  • Facultatif: Permanters personnalisés, grands luminaires SST (500/1000 mm) pour des échantillons non standard.

Service et logistique

Prioriser la livraison rapide et sécurisée via des voies foncières / marines / aériennes optimisées, nous nous assurons que l'équipement arrive opérationnel et sans dégâts.


FAQ

Q1: Directives de préparation des échantillons?

  • Assurez-vous des surfaces plates et intactes (les coupes / contraintes modifient les résultats).
  • Nettoyez des draps sans rouille, plis ou contaminants.
  • Tester des formes irrégulières dans des conditions identiques pour la cohérence.

Q2: Comment la précision est-elle réalisée?

  • La correction de la forme d'onde numérique et la rétroaction en temps réel stabilisent les mesures.
  • Systèmes de vision + échelles de réseau Capturent les données dimensionnelles avec précision.
  • Logiciel modulaire (acquisition de données, analyse, interface utilisateur) rationalise le traitement.

Q3: vitesse et portée?

  • Teste 255 points automatiquement (~ 30 secondes / point).
  • Couvre les matériaux magnétiques doux (bandes d'acier, alliages) sur 45 Hz à 1 kHz.

Remarque: les configurations s'adaptent aux besoins de recherche uniques, soutenus par le support technique mondial.

 

Software Screen of AC Hysteresis Graph1

Software Screen of AC Hysteresis Graph2